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異物顆粒檢測(cè)是一種針對(duì)工業(yè)場(chǎng)景中 “非預(yù)期存在的固體雜質(zhì)” 進(jìn)行精準(zhǔn)識(shí)別、量化分析與來源追溯的專項(xiàng)技術(shù)，核心目標(biāo)是通過科學(xué)手段排查產(chǎn)品 / 介質(zhì)中的污染物（如金屬屑、粉塵、纖維、腐蝕產(chǎn)物等），保障產(chǎn)品質(zhì)量、設(shè)備安全與使用可靠性，廣泛應(yīng)用于汽車、航空航天、電子半導(dǎo)體、藥品、油品、精密制造等領(lǐng)域。
英菲洛專業(yè)提供光學(xué)圖像法異物顆粒檢測(cè)解決方案，軟件具備尺寸測(cè)量，顆粒數(shù)量粒徑各種參數(shù)統(tǒng)計(jì)，形態(tài)分析，元素分析等功率。
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